Семинар «Современные методы контроля качества поверхности»

Компания ОПТЭК совместно с ведущими мировыми производителями атомно-силовых микроскопов и профилометров Bruker Nano приглашает всех желающих принять участие в научно-методическом семинаре «Современные методы контроля качества поверхности», направленном на демонстрацию новейших технологий, их применение в решении широкого спектра научных и производственных задач, а также на осуществление обмена знаниями и опытом зарубежных и российских специалистов в области атомно-силовой микроскопии и профилометрии.

Семинар будет проходить в течение двух дней в Центре метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии (ЦМО НАНО) ФГУП «ВНИИОФИ», г. Москва и в офисе компании «ОПТЭК», г. Москва.

В эти дни пройдут обсуждения актуальных вопросов, которые связаны с контролем качества поверхности различных материалов с помощью атомно-силовой микроскопии, оптической и механической профилометрии, будут представлены новинки в этой области, продемонстрированы возможности приборов фирмы Bruker, инсталлированных в ЦМО НАНО, лабораториях Московского энергетического университета (МЭИ ТУ) и Объединенного института высоких температур РАН (ОИВТ РАН). В конце каждого из дней для участников семинара запланированы круглые столы во главе с зарубежными экспертами, в том числе с представителями фирмы Bruker, с целью обсуждения всех интересующих вопросов и совместного поиска решений в вопросах получения оптимальных результатов при анализе образцов, вызывающих сложности при измерениях.

Программа семинара:

22 сентября
Москва, ул.Озерная, 46, ЦМО НАНО ФГУП «ВНИИОФИ»
09:45-10:00 Регистрация
10:00-10:10 Приветствие
10:10-10:40 Современные методы контроля поверхности с помощью атомно- силовой микроскопии
10:40-11:40 Решения для микроэлектроники и систем накопления энергии
11:40-12:00 Кофе-брейк
12:00-13:00 Решения для полимеров
13:00-14:00 Обед
14:00-15:00 Новинки (Приборы и технологии)
Атомно-силовой микроскоп высокого разрешения NEOS и NEOS SENTERRA — микроскоп, сочетающий в себе атомно-силовую микроскопию и рамановскую спектроскопию
Атомно-силовой микроскоп Dimension FastScan — в 100 раз быстрее своих предшественников
Новая технология автоматической оптимизации качества изображений ScanAsyst
Новые технологии Peak Force Tapping, PeakForce QNM, PeakForce Tuna
15:00–16:00 Практическая часть: Атомно-силовые микроскопы Innova и Dimension Icon
16:00-17:00 Круглый стол
17:00-18:00 Фуршет
23 сентября
Москва, Денисовский пер., д.26, ООО «ОПТЭК»
09:45-10:00 Регистрация
10:00-11:10 Практическая часть:
Механический профилометрDektak
 и атомно-силовой микроскоп MultiMode8
11:10-11:30 Трансфер в офис
11:30-12:30 Обед
12:30-13:00 Современные методы контроля поверхности с помощью оптических и механических профилометров.
13:00-14:00 Возможности оптической профилометрии.
14:00-15:00 Возможности механической профилометрии. Основные аспекты применения обоих методов.
15:00-15:20 Кофе-брейк
15:20-16:20 Круглый стол

Рабочие языки семинара — русский, английский

Скачать Предварительную программу семинара

Место проведения:
22 сентября - Москва, ул.Озерная, 46, ЦМО НАНО ФГУП «ВНИИОФИ»
23 сентября - Москва, Денисовский пер., д.26, ООО «ОПТЭК»

Начало семинара в 10-00.

УЧАСТНИКИ СЕМИНАРА ОБЕСПЕЧИВАЮТСЯ ИНФОРМАЦИОННЫМИ МАТЕРИАЛАМИ!

Участие в семинаре бесплатное. Необходимо заполнить регистрационную форму и отправить ее по электронной почте Litvinova@optecgroup.com и Bashkova@optecgroup.com

По всем организационным вопросам обращаться к Нине Сергеевне Литвиновой
или Ирине Александровне Башковой. Тел. +7(495)933-51-51.