Семинар «Современные методы контроля качества поверхности»
Компания ОПТЭК совместно с ведущими мировыми производителями атомно-силовых микроскопов и профилометров Bruker Nano приглашает всех желающих принять участие в научно-методическом семинаре «Современные методы контроля качества поверхности», направленном на демонстрацию новейших технологий, их применение в решении широкого спектра научных и производственных задач, а также на осуществление обмена знаниями и опытом зарубежных и российских специалистов в области атомно-силовой микроскопии и профилометрии.
Семинар будет проходить в течение двух дней в Центре метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии (ЦМО НАНО) ФГУП «ВНИИОФИ», г. Москва и в офисе компании «ОПТЭК», г. Москва.
В эти дни пройдут обсуждения актуальных вопросов, которые связаны с контролем качества поверхности различных материалов с помощью атомно-силовой микроскопии, оптической и механической профилометрии, будут представлены новинки в этой области, продемонстрированы возможности приборов фирмы Bruker, инсталлированных в ЦМО НАНО, лабораториях Московского энергетического университета (МЭИ ТУ) и Объединенного института высоких температур РАН (ОИВТ РАН). В конце каждого из дней для участников семинара запланированы круглые столы во главе с зарубежными экспертами, в том числе с представителями фирмы Bruker, с целью обсуждения всех интересующих вопросов и совместного поиска решений в вопросах получения оптимальных результатов при анализе образцов, вызывающих сложности при измерениях.
Программа семинара:
| 22 сентября Москва, ул.Озерная, 46, ЦМО НАНО ФГУП «ВНИИОФИ» |
|
| 09:45-10:00 | Регистрация |
| 10:00-10:10 | Приветствие |
| 10:10-10:40 | Современные методы контроля поверхности с помощью атомно- силовой микроскопии |
| 10:40-11:40 | Решения для микроэлектроники и систем накопления энергии |
| 11:40-12:00 | Кофе-брейк |
| 12:00-13:00 | Решения для полимеров |
| 13:00-14:00 | Обед |
| 14:00-15:00 | Новинки (Приборы и технологии) Атомно-силовой микроскоп высокого разрешения NEOS и NEOS SENTERRA — микроскоп, сочетающий в себе атомно-силовую микроскопию и рамановскую спектроскопию Атомно-силовой микроскоп Dimension FastScan — в 100 раз быстрее своих предшественников Новая технология автоматической оптимизации качества изображений ScanAsyst Новые технологии Peak Force Tapping, PeakForce QNM, PeakForce Tuna |
| 15:00–16:00 | Практическая часть: Атомно-силовые микроскопы Innova и Dimension Icon |
| 16:00-17:00 | Круглый стол |
| 17:00-18:00 | Фуршет |
| 23 сентября Москва, Денисовский пер., д.26, ООО «ОПТЭК» |
|
| 09:45-10:00 | Регистрация |
| 10:00-11:10 | Практическая часть: Механический профилометрDektak и атомно-силовой микроскоп MultiMode8 |
| 11:10-11:30 | Трансфер в офис |
| 11:30-12:30 | Обед |
| 12:30-13:00 | Современные методы контроля поверхности с помощью оптических и механических профилометров. |
| 13:00-14:00 | Возможности оптической профилометрии. |
| 14:00-15:00 | Возможности механической профилометрии. Основные аспекты применения обоих методов. |
| 15:00-15:20 | Кофе-брейк |
| 15:20-16:20 | Круглый стол |
Рабочие языки семинара — русский, английский
Скачать Предварительную программу семинара
Место проведения:
22 сентября - Москва, ул.Озерная, 46, ЦМО НАНО ФГУП «ВНИИОФИ»
23 сентября - Москва, Денисовский пер., д.26, ООО «ОПТЭК»
Начало семинара в 10-00.
УЧАСТНИКИ СЕМИНАРА ОБЕСПЕЧИВАЮТСЯ ИНФОРМАЦИОННЫМИ МАТЕРИАЛАМИ!
Участие в семинаре бесплатное. Необходимо заполнить регистрационную форму и отправить ее по электронной почте Litvinova@optecgroup.com и Bashkova@optecgroup.com
По всем организационным вопросам обращаться к Нине Сергеевне Литвиновой
или Ирине Александровне Башковой. Тел. +7(495)933-51-51.
